Cacat sambungan solder yang tersembunyi adalah penyebab utama kegagalan lapangan pada perangkat elektronik dengan keandalan tinggi. AOI tradisional, ICT, dan inspeksi manual tidak dapat mendeteksi rongga, penghubung, HiP, atau pembasahan yang buruk. Hanya pemeriksaan sinar-X resolusi tinggi—termasuk CT 2D, 2.5D, dan 3D—yang dapat mengidentifikasi masalah kritis ini dengan andal. Sistem X-7100, X-7900, dan X-9200 ICT menghadirkan resolusi sub-mikron, perangkat lunak cerdas, dan dukungan global, membantu produsen di sektor otomotif, medis, dirgantara, dan 5G mengurangi kegagalan, meningkatkan keandalan, dan mencapai ROI yang cepat.